시스템 개요 및 목적

본 시스템은 CCD Image Sensor를 이용해 나노 단위의 물체에 대한 Image 취득, 분석, 교정, 저장을 하기 위한 Software입니다. 통상적으로 Transmision Electronic Microscope로 불리는 투사 전자 현미경의 기초 시스템으로서 고해상도의 CCD Image Sensor를 활용한 Image 계측이 주된 목적입니다.

소프트웨어

LabVIEW 2015

• NI FPGA 15.0

• NI Vision 15.0

하드웨어

NI PXIe-1085 (PXI Chassis)

• NI PXIe-8135 (PXI Controller)

• NI PXIe-7965R (FlexRIO)

• NI PXI-1483 (Camera Link

소프트웨어설명

TEM Image Acquisition System Software는 Windows 환경과 FPGA 환경에서 구현되어 있습니다. 시스템이 초기화 되고 FPGA 모듈에 연결되어 있는 Camera Link를 통하여 CCD Image Sensor Kit와 연결됩니다. CCD Image Sensor와 연결 된 후 Software상의 Image Acquisition 버튼을 통해서 CCD Image Sensor로부터 촬영된 Image data가 Camera Link 모듈로 계측됩니다. 계측된 Image Data는 사용자에 의해서 Data 분석, 저장, Calibration을 사용할 수 있습니다. 또한, 저장된 Data는 추 후에 Software 상에서 Load하여 동영상 제작 및 Viewer할 수 있습니다. 더불어 CCD Image Sensor로부터 촬영된 Image 4개의 영역에 대해서 Calibration, FFT분석, Line Data Display등의 Image 분석 할 수 있습니다.